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| PT3100ABI记忆芯片离线测试仪 |
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PT3100ABI记忆芯片测试仪
特点：
1、 可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K--- 116M。
2、 可自动测试芯片的好坏，也可先设定型号，再进行测试。
3、 提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。 4、 细致的设置菜单，可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5、 可准确显示故障位置 。
6、 带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7、 可使用电源适配器，也可使用电池。
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